ASAHI-SPECTRA朝日分光 光學式膜厚計 OMD-1000

ASAHI-SPECTRA朝日分光 光學式膜厚計 OMD-1000

ASAHI-SPECTRA朝日分光 光學式膜厚計 OMD-1000

這是一種光譜薄膜厚度監(jiān)測器，使用單色光監(jiān)測基板在氣相沉積過程中的光強度變化。 它也用于我們自己的氣相沉積設備，并在充滿作為氣相沉積部件制造商*知識的膜厚監(jiān)控裝置中完成。它被連接到氣相沉積設備上，并監(jiān)測薄膜厚度。

它可以按照右側所示進行安裝。

長處

緊湊的設計，帶有集成光譜儀

提高抗噪性，實現(xiàn)可靠的膜厚監(jiān)測（靜電放電測試耐壓 ±5kV）

可通過 PC 的命令自動控制

控制器內(nèi)置于接收器本體中，以實現(xiàn)高。

增強的波長范圍

以前的型號是濾光片型波長選擇，但新產(chǎn)品采用了我們經(jīng)過驗證的光譜儀，現(xiàn)在可以選擇任何波長。

薄膜厚度變化的信號從電壓輸出更改為與個人計算機兼容的數(shù)字輸出，控制機構由個人計算機的命令控制，而不是手動作。 此外，通過I/F直接連接個人計算機的薄膜測厚儀本體進行控制，因此沒有其他制造商的控制器，因此是一個非常緊湊的系統(tǒng)。

ASAHI-SPECTRA（朝日分光）是日本*的光學技術企業(yè)，專注于高端分光器、光學濾光片及定制化光學元件的研發(fā)與生產(chǎn)。憑借數(shù)十年的技術積累，該在紫外（UV）、可見光（VIS）到紅外（IR）光譜領域占據(jù)重要地位，產(chǎn)品廣泛應用于半導體檢測、生命科學、環(huán)境監(jiān)測、工業(yè)測量及科研領域。
核心技術優(yōu)勢
高精度分光技術：ASAHI-SPECTRA的分光器（如單色儀、光譜儀）以高分辨率、低雜散光特性著稱，滿足嚴苛的科研和工業(yè)需求。
*光學鍍膜工藝：其光學濾光片（帶通、長通、短通濾光片等）采用多層鍍膜技術，實現(xiàn)優(yōu)異的透射率、截止深度和熱穩(wěn)定性。
定制化解決方案：提供從標準品到完全定制設計的光學元件，靈活應對客戶特殊波長、尺寸或性能要求。
核心產(chǎn)品線
單色儀與光譜儀：適用于激光分析、熒光測量等精密應用。
光學濾光片：涵蓋紫外到紅外波段，支持窄帶、寬帶及特殊形狀需求。
光纖光譜系統(tǒng)：集成化設計，用于在線檢測和實時監(jiān)測。